共通ツールセンサー

CC-Link対応通信ユニット UC1-CL11

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ユーティリティ設備

製品説明・スペック紹介

ネットワークでセンサを管理・制御
|三菱電機iQSSに対応
|ファイバセンサ・変位センサの遠隔操作が可能
|省配線・省スペースを実現

■ファイバセンサと変位センサを混在させた接続が可能
UC1シリーズにはファイバセンサD3RF/D3WFシリーズが連結可能。
また変位センサアンプユニットCDAシリーズを使用すれば、変位センサCD22や透過型エッジセンサTD1を接続可能。
複数種のセンサを混在して接続できます。

■生産現場のさまざまな課題をネットワーク化により解決します。

■三菱電機の iQ Sensor Solution(iQSS)に対応
・センサとシーケンサ・表示器・エンジニアリング環境の連携
三菱電機のiQ Sensor Solutionに対応し(iQSS)、エンジニアリングソフトウェアGX Works2/Works3でCC-Link上のセンサの操作が可能。
対応するCSP+ファイルをGX Works2/Works3に取り込むことにより機器の立上げが短時間で済み、またパラメータ等を簡単に設定することができます。

■iQSSなら、こんなことが簡単にできます。
・接続されているセンサの機種情報や接続台数を自動検出
・センサの受光量や測定値のモニタが可能
・センサ設定値の読出しや書込み
・センサ設定値のバックアップ/リストア

取り扱い企業

企業名
オプテックス・エフエー株式会社同企業の情報・その他製品を見る
所在地
〒600-8815 京都府京都市下京区中堂寺粟田町91京都リサーチパーク
電話
075-325-2922
Webサイト
サービス提供エリア
北海道・東北
北海道、青森県、岩手県、宮城県、秋田県、山形県、福島県
関東
東京都、神奈川県、埼玉県、千葉県、茨城県、群馬県、栃木県
東海
愛知県、静岡県、岐阜県、三重県
北陸・甲信越
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関西
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中国・四国
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九州・沖縄
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メガピクセル文字認識画像センサ MVS-OCR2シリーズ

高解像度でかんたん操作を実現したメガピクセル印字検査カメラ |従来比8倍の解像度 |安定検出を実現し、誤認識を防ぐ様々な機能 |かんたん導入・らくらく運用 CE認証取得 ■印字検査機出荷台数 世界No.1 印字検査機出荷台数 世界No.1メーカーであるオプテックス・エフエーが、新たに開発した『MVS-OCR2』シリーズ。読取能力と操作性が飛躍的に向上した上、かんたん導入・らくらく運用を実現しました。 新世代印字検査カメラとして食品製造現場の幅広い印字検査ニーズに対応するとともに、業界のプライスリーダーとして貴社の導入コスト低減に大きく貢献します。 ■従来比8倍の解像度を実現 ・高解像度化により、正確な印字検査が可能 イメージセンサのメガピクセル化により、従来比8倍の解像度を達成。読取能力が格段に向上したので、より正確な印字検査を実現しました。 ・より広い視野での検査が可能 解像度の向上により2倍以上の視野を実現。 一列に長い印字や、通過位置が一定しないラインでの印字検査を可能にしました。 ■MVS-OCR2の文字認識検査 読み取った文字をセンサ内部の辞書データと比較し、その中から最も近い文字を選択、その選択した文字が全て正しければOK、1文字でも一致しなかったらNGとすることが可能。印字間違いや文字欠け/文字抜けといった印字不良を未然に防止することができます。 ■新アルゴリズムによる文字切り出しnew ・照明ムラに強い MVS-OCR2の最新アルゴリズムは照明ムラにも強くなっています。 不測の事態により、照明の状態が変動してしまった場合でも誤作動しにくくなっています。 ・ゆがみに強い 印字面がゆがんでしまうと文字もゆがんでしまい認識が難しくなってしまいますが、MVS-OCR2ならゆがみに強い印字検査が可能。 NGと判定しがちなゆがんだ印字も正しい印字内容であればOKと判定できます。無駄バネを排し、製造ロスを最小限に抑えることが可能です。 ■コード化された日付・時刻の認識 通常の年月日表記以外にも、コード化された日付や時刻の認識も可能。製造年月日など、品質管理上印字されている文字列を判別してカレンダ機能による自動更新で認識することができます。

解決できる課題

  • 品質向上
  • IoT、DXの活用
  • 制御機器更新

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超高精度レーザ変位センサ CDXシリーズ

世界最高リニアリティ! |新開発イメージセンサ:ATMOS |ダイレクトにEthernet接続 |WEBサーバ搭載 CE認証取得 ■世界最高リニアリティを実現 カタログスペック「±0.015% F.S.※」をらくらくクリアできる世界最高のリニアリティ。 従来機に比べ、圧倒的な高精度測定を実現しています。 ※CDX-W30/-W85/-W150各機種の拡散反射設置にて。 測定条件として: ワーク角度:±0°、周囲温度:25℃(常温)、電源電圧:DC24V、サンプリング周期:50μs、移動平均回数:256、メディアンフィルタ:31、測定中心距離、標準対象測定物:可視光遮蔽性セラミック。またセンサヘッドは、アルミ治具にて固定して測定しています。 ●『リニアリティ』は「直線性」を意味し、実際の距離との誤差を表す数値。 ■先進の光学系と高剛性ボディ 超高精度測定のため新たに開発された専用設計の光学系と独立ベースユニット構造の高剛性ボディ。 精度と高速性を高次元で両立し、誤差の要因をシャットアウトすることに成功しました。 ■Neo LDレンズを搭載 測定対象から反射される光を受光素子上に高精度に結像するために、受光レンズをカスタム化。誤差の原因となるレンズ収差によるスポットのひずみを大幅に軽減することに成功しました。 Neo LD: Neo Low Dispersion

解決できる課題

  • 品質向上
  • 自動化
  • IoT、DXの活用
  • 制御機器更新